主營(yíng)產(chǎn)品:里氏硬度計(jì)涂層測(cè)厚儀超聲波測(cè)厚儀粗糙度儀超聲波探傷儀便攜式測(cè)振儀電火花檢漏儀氣體檢測(cè)儀便攜式內(nèi)窺鏡激光測(cè)徑儀
產(chǎn)品[

TIME1130手持式超聲波探傷儀

]資料
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產(chǎn)品名稱: TIME1130手持式超聲波探傷儀
產(chǎn)品型號(hào): TIME 1130
產(chǎn)品展商: 其它品牌
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔


簡(jiǎn)單介紹
TIME1130手持式超聲波探傷儀匯集時(shí)代公司26年超聲儀器設(shè)計(jì)、制造經(jīng)驗(yàn)而研制的更新?lián)Q代產(chǎn)品,能夠快速、無(wú)損傷、準(zhǔn)確地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷如裂紋、焊縫、 氣孔、砂眼、夾雜、折疊等的檢測(cè)、定位及對(duì)缺陷的定量和定性,TIME1130手持式超聲波探傷儀廣泛應(yīng)用于電力、石化、鍋爐壓力容器、鋼結(jié)構(gòu)、** 、航空航天、鐵路交通、汽車、機(jī)械等領(lǐng)域。

TIME1130手持式超聲波探傷儀

的詳細(xì)介紹
TIME1130手持式超聲波探傷儀符合標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
本儀器涉及到的超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)有:
-GB/T 12604.1-2005 無(wú)損檢測(cè) 術(shù)語(yǔ) 超聲檢測(cè)
-JB/T 10061-1999 A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件
-JJG 746-2004 超聲探傷儀檢定規(guī)程
-GB/T 11345-1989鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果分級(jí)
-JB/T 4730.3-2005 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè) 第3部分:超聲檢測(cè)
-JG/T 203-2007鋼結(jié)構(gòu)超聲波探傷及質(zhì)量分級(jí)法,代替JG/T 3034-1996
-SY/T 4109-2005 石油天然氣鋼制管道無(wú)損檢測(cè),代替SY/T 0443-1998,SY/T 0444-1998,SY/T 4056-1993,SY/T 4065-1993

功能特點(diǎn)
- 新開發(fā)的、采用國(guó)內(nèi)業(yè)界**的可調(diào)方波激勵(lì)技術(shù),內(nèi)置帶有可調(diào)節(jié)選項(xiàng)的高性能“方波脈沖發(fā)生器”,實(shí)現(xiàn)與探頭的佳匹配,對(duì)檢測(cè)高衰減材料或厚工件具有**的穿透力和信噪比;而對(duì)檢測(cè)薄工件和復(fù)合材料又有高的分辨率。
- **的電路設(shè)計(jì),采用12bits 80MHz采樣片,配合5.7"TFT (640x480)高分辨率彩色液晶顯示屏,確保能快速、準(zhǔn)確地對(duì)缺陷的回波信號(hào)進(jìn)行顯示和分析,對(duì)各種弱小信號(hào)的變化和細(xì)節(jié)都能及時(shí)響應(yīng),回波信號(hào)的實(shí)時(shí)性和真實(shí)性得到有效的保證,對(duì)缺陷性質(zhì)的分析和判斷極為有利。(下圖為全波顯示和射頻顯示)

- 支持動(dòng)態(tài)錄像功能,可記錄4個(gè)動(dòng)態(tài)記錄文件,每個(gè)文件可以以16幀/秒的速度記錄2分鐘實(shí)時(shí)波形??赏饨覷盤存貯到4個(gè)文件,每個(gè)文件半個(gè)小時(shí),通道保存、通道存儲(chǔ)菜單化操作,大大方便數(shù)據(jù)的分析存儲(chǔ)。

- 支持灰度B掃功能,可顯示截面灰度B掃描,一個(gè)屏幕顯示豐富信息量,可用于簡(jiǎn)單TOFD應(yīng)用。(下圖為灰度B掃功能顯示圖)
- 豐富的波形凍結(jié)功能,波形凍結(jié)功能包括峰值顯示、波形比較、波形包絡(luò)等功能,還具有定時(shí)釋放能力,大大方便用戶操作。

- 機(jī)器嚴(yán)格符合歐標(biāo)En12668-1的標(biāo)準(zhǔn)要求。
- 內(nèi)置國(guó)內(nèi)主要4個(gè)探傷標(biāo)準(zhǔn),可直接通過(guò)選取標(biāo)準(zhǔn)、試塊、探傷等級(jí)自動(dòng)設(shè)置DAC曲線的三線偏移量,內(nèi)帶“美國(guó)鋼結(jié)構(gòu)焊接規(guī)范焊縫分級(jí)AWS D1.1”評(píng)定標(biāo)準(zhǔn),使檢測(cè)更加得心應(yīng)手,方便現(xiàn)場(chǎng)使用。(下圖為DAC曲線圖)

探傷功能
波峰記憶:實(shí)時(shí)檢索缺陷高波,標(biāo)定缺陷大值
實(shí)用AVG:實(shí)用AVG曲線、自動(dòng)換算缺陷φ值(X>3N,N為近場(chǎng)距離)
動(dòng)態(tài)記錄:檢測(cè)實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)記錄波形,存儲(chǔ)、回放
缺陷定位:實(shí)顯水平值P、深度值D、聲程值S
缺陷定量:實(shí)顯SL定量值(DAC曲線實(shí)時(shí)定量)
缺陷定性:通過(guò)包絡(luò)波形,人工經(jīng)驗(yàn)判斷
曲面修正:曲面工件探傷,修正曲率換算
灰度B掃描:實(shí)時(shí)掃查,描述缺陷橫切面

基本

測(cè)量單位

mm、inch、ms

掃描范圍(mm)

零界面入射~10000

聲速調(diào)節(jié)(m/s)

600~16000

探頭延遲(μs)

-1.000~750.000

顯示延遲(μs)

-20~ 3400

工作方式

單探頭、雙探頭、透射

波形顯示方式

A掃描顯示、灰度B掃描顯示、AB掃描同時(shí)顯示

脈沖發(fā)生器

脈沖形式

模擬方波

發(fā)射電源(V)

100~400,10V步距可調(diào)

發(fā)射脈寬(ns)

75、100~500,50ns步距可調(diào)

探頭阻尼(Ω)

50、100、200、500

發(fā)射重復(fù)頻率(Hz)

10~1000

接收器

增益(dB)

0~110 分0.1、0.2、0.5、1.0、2.0、6.0、12.0可調(diào)

總帶寬(MHz)

0.5~20

檢波方式

正半波、負(fù)半波、全波、射頻

垂直線性誤差

±2%

放大器精度(dB)

±1

抑制(%)

屏高的0~80

采樣速率(MHz)

單片80 12bits

發(fā)射串?dāng)_抑制(dB)

≥80

動(dòng)態(tài)范圍(dB)

≥40

瞬時(shí)分辨力(dB)

≥32

水平線性誤差

≤0.1%

靈敏度余量

≥62dB

測(cè)量

測(cè)量閘門

2個(gè)獨(dú)立測(cè)量閘門

檢測(cè)方式

邊沿、峰值

閘門測(cè)量

回波的幅值、聲程、深度、投影等

凍結(jié)

凍結(jié)方式有:全凍結(jié)、峰值、比較、包絡(luò)等方式

AVG當(dāng)量計(jì)算

根據(jù)缺陷回波和AVG曲線自動(dòng)計(jì)算缺陷當(dāng)量評(píng)估

DAC缺陷定量

根據(jù)缺陷回波和DAC 曲線對(duì)缺陷進(jìn)行評(píng)估

閘門邏輯

關(guān)、測(cè)量、進(jìn)波報(bào)警、失波報(bào)警

閘門報(bào)警

關(guān)、即時(shí)、保持.2s、保持.5s、保持1s、保持2s、鎖存

報(bào)警蜂鳴

關(guān)、開

數(shù)據(jù)管理,通信及打印

數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

50個(gè)探傷參數(shù)通道記錄

1000幅波形圖

(包括980幅A掃描波形和20幅B掃描波形)

4x2000幀的動(dòng)態(tài)波形

數(shù)據(jù)管理

實(shí)現(xiàn)對(duì)通道、波形、動(dòng)態(tài)記錄的存儲(chǔ)、查看、回放操作

上述均可存儲(chǔ)到本地或U盤

通信

通過(guò)USB接口與PC機(jī)通信

輸出接口

USB OTG接口

USB2.0 Device 與PC機(jī)通訊接口

USB2.0 Host 接U盤

其它

產(chǎn)品重量(kg)

約1.6

產(chǎn)品外型尺寸(mm)

300×180×58(不帶遮光罩)

工作溫度(℃)

-10~ 50

存儲(chǔ)溫度(℃)

-20~ 60

語(yǔ)言

英語(yǔ)、中文

探頭連接

LEMO 或BNC

電池容量(mAh)

聚合物電池2×3.7V 5000mAh

電池工作時(shí)間(h)

不低于8

充電時(shí)間(h)

不超過(guò)8

電源適配器

輸入100-240~50/60Hz

輸出9V DC/3 A~4A

產(chǎn)品留言
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2.如有必要,請(qǐng)您留下您的詳細(xì)聯(lián)系方式!


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